-
-
Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM)
3 TEMMUZ 2018
Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM)
BAŞLICA UYGULAMALAR
- Metalik malzemelerin görüntü analizi ve karakterizasyonu
- Edx dedektörü ile numunelerin elementer kompozisyonlarının analizi
- Metalik malzemelerin faz, mikroyapı, inklüzyon ve hasar analizi
TEKNİK ÖZELLİKLER
- Tungsten filamen kaynağı ile analiz
- İkincil elektron (SE) dedektörü ile topografik görüntüleme
- Geri saçılan elektron (BSE) dedektörü ile kompozisyonel görüntüleme
- EDS dedektörü ile nokta, alan veya hat boyunca kalitatif ve kantitatif kimyasal kompozisyon analizi
- 8,5mm çalışma mesafesi ve 25mm2 görüntüleme alanı
- 100mm yükseklik ve 120mm çapa kadar numune analizi
- VP modu ile birlikte yalıtkan numunelerde gerektiğinde kaplama yapmadan analiz imkanı